南宫NG28

服务背景

电子设备主要是由电子元器件组成的，因此电子元器件的可靠性直接影响电子设备可靠性。电子元器件也是属于比较“脆弱”的一种产品，温度、湿度、振动、盐雾等各种环境应力都可能会损伤电子元器件，造成电子设备的故障失效。根据大量失效数据分析，湿气引起电子元器件的失效比例占20%左右。
HAST（ Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）： 一般称为高加速温湿度应力试验或是高加速应力试验。HAST测试通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力，水汽通过封装材料或管脚渗透，用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性。

服务内容

一、适用测试标准

GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列电工电子产品环境试验 试验C：未饱和高压蒸汽恒定湿热

JESD22-A110高加速温湿度应力试验

JESD22-A118加速防潮-无偏置高加速温湿度应力试验

AEC-Q汽车零部件车规级标准

二、适用产品范围

集成电路IC、晶体管、MOS管、电阻、电容、电感、LED、光伏元件、机电元件、传感器等。

三、常规样品要求

请联系南宫NG28的业务或客服，以具体标准为准。

四、测试方法

U-HAST：无偏压高加速温湿度应力试验，是测试电镀和直接化学腐蚀的首选方法.

B-HAST：偏压高加速温湿度应力试验，与温湿度偏压试验（THB）对产品的破坏机理一致，是THB的加速测试，测试时器件必须以最小的功耗运行。

*注：120℃/85%RH条件仅标准GB/T 2423.40/IEC 60068-66适用

CTI解决方案

CTI提供全面的可靠性测试一站式解决方案，包括。

  ● 环境测试

  ● 可靠性测试

  ● 可靠性设计

  ● 可靠性测分析

  ● 产品评估

  ● 可靠性培训及咨询

南宫NG28的优势

CTI具有专业资质、经验丰富的技术专家团队，为您提供专业咨询和服务。在电子元器件的无损检测、破坏性物理分析、性能检测、失效分析和可靠性验证方面有丰富的经验，与众多电子及微电子企业有长期深入的合作，可以提供优质、高效的技术服务。可以根据客户的技术需求，定制推荐合理的测试方案。

服务流程