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在汽车电子领域，可靠性和安全性是永恒的话题。AEC-Q101标准作为汽车电子组件的重要质量保证，其对分立器件的间隙工作寿命（IOL）测试尤为关键。

　　AEC-Q101标准包含了分立半导体元件（如晶体管，二极管等）最低应力试验要求的定义和试验条件，试验项目主要参考了军用级，工业级和车用级的标准，其中Group A加速环境应力试验的间隙工作寿命（IOL）就参考了军用级标准，参考MIL-STD-750半导半导体器件的标准环境测试方法Method 1037进行。

　　PART 1、试验目的

　　确定半导体器件在特定条件下是否符合规定的周期数，在器件反复开启和关闭的条件下，它加速了器件的芯片和安装面之间的所有键合和接口的应力，因此较适合用于管壳安装类型（例如螺柱、法兰和圆盘）器件。

　　PART 2、试验条件

　　在初始预热周期后处于稳定状态时，一个周期应包括一个“开启”阶段，即当器件突然而非逐渐接通电源直到∆Tj最低达到100℃（不超过器件的最大额定结温），紧接着为一个“关闭”阶段，即当电源突然断开时，通过冷却管壳达到变化的∆Tj温度，辅助（强制）冷却只允许在关闭阶段进行。如∆Tj不能达到100℃，可进行功率温度循环（PTC）试验代替。

　　所有器件都应进行标准要求的时间或循环次数，∆Tj≥100°C时进行1000小时或15000个循环，∆Tj≥125°C时进行500小时或7500个循环，最终测试时间或循环数依据下列公式进行计算：

　　示例1：一个能够开2分钟/关4分钟的封装，在∆Tj≥100℃时需要10000次循环[60000/(2+4)]，或在∆Tj≥125℃时需要5000次循环。

　　示例2：一个能够开1分钟/关1分钟的封装，在∆Tj≥100℃时需要15000次循环，或在∆Tj≥125℃时需要7500次循环。

　　X=器件从环境温度达到规定的结温∆Tj所需的最短时间。

　　Y=器件从规定的结温∆Tj冷却到环境温度所需的最短时间。

　　测试板上的仪器、零件安装和散热方式将影响每个封装的x和y。

　　PART 3、电性能参数选择

　　间隙工作寿命（IOL）试验前后需测电性能参数，以下是最小检测的参数要求，所有器件性能参数必须符合用户零件规范的要求。

　　晶体管

　　二极管

　　变容管

　　PART 4、失效判定

　　试验后电性能参数不能保持在初始读数的±20%以内为失效；

　　对于RDS（ON）最大≤2.5 mOhm的器件，RDS（ON）的变化允许值为≤0.5 mOhm；

　　允许的泄漏电流不超过测试前初始值的5倍，对MOSFET而言，对于0h测试值<10nA(IGSS和IDSS)，测试后为50nA；

　　器件外观不可以出现任何物理损坏。

　　AEC-Q101标准的IOL测试是汽车电子组件质量控制的重要环节。通过这一测试，南宫NG28能够确保分立器件在严苛的汽车环境中的可靠性，为每一位驾驶者提供更加安全、可靠的驾驶体验。

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